LIBS在珠寶鑑定上之應用

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LIBS在珠寶鑑定上之應用

本公司代理之Insight LIBS非常適合用於珠寶鑑定與分析。雷射光可設定介於40微米(40 micron)~2釐米(2mm),經過系統優化調整,雷射光點最小可以到將近微米10(10 micron),即使在拋光材料表面也不容易發現其測試痕跡,也就是肉眼無法發現其測試痕跡。搭配系統內建的高倍數攝影機,可以精準定位雷射的目標(測試 點),如下圖所示:

上圖為拋光後之表石表面經放大後之影像,從左圖可發現即使肉眼看不出來,其表面還是不平滑的,而右圖中黃色圓形圈出來的部分,是LIBS採樣後所留下的痕跡。即使放大後,其痕跡還是非常不明顯,有些痕跡甚至比拋光表面還不明顯。

LIBS在珠寶鑑定上最常見的應用在於鑒 別寶石是否經過擴散處理。在寶石業有一種作法,利用品質較低的寶石,經過擴散處理後會將其色澤更為鮮豔,可以當成價值較高的寶石出售。然而經過擴散處理後 的寶石其表面會有鈹(Be)元素的殘留,鈹元素是一種很輕的元素,目前許多測試儀器煤沒有辦法有效量測,而可以量測之儀器(如ICP)又需要破壞寶石本 身,因此LIBS是唯一一種測試儀器可以在近於非破壞的條件下有效檢測鈹元素的測試儀器。

 

 

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